Microscop electronic (SEM)

Universitatea Tehnică “Gheorghe Asachi” din Iaşi
Facultatea de Ştiinţa şi Ingineria Materialelor
Departamentul de Știința Materialelor

SEm

 

  • Microscop electronic cu scanare (scanning electron microscope SEM) VegaTescan LMH II

Caracteristici tehnice: putere de amplificare 100000x, detector de electroni secundari (SE), vid înaintat, filament de tungsten, carusel 7 probe (dimensiuni standard 10x10x45 mm), software VegaTescan.

Probe analizate: toate tipurile de materiale metalice şlefuite mecanic sau nu, materiale ceramice şi polimerice (cu recomandarea folosirii unui strat superficial metalic), materiale compozite, materiale textile, materiale biologice, filme subţiri.

Analize: microstructură, starea suprafeţei, straturi subţiri, dimensionare, analiza profilometrică prin variaţia intensităţii luminoase, analiză 3D a suprafeţei, identificare faze prin Binary operations, Split RGB, Colomapping, creare imagini stereotip, creare imagini 3D.

Tur virtual. Pentru vizualizare folosiţi butoanele de control